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红外发射率测量仪
SOC-210 BDR 高精度BRDF测量仪
——科研极高精度全自动BRDF/BTDF测量系统
 
   SOC-210是一款高精度科研级BRDF测量系统,可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF,实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数(BRDF)制图。BRDF 数据可以提供研究材料光学性能所必须的方向反射信息,如表面能量散射的方向和强度。
 
仪器特点:

※ 光谱范围:0.35~14μm(基于检测器选项)
※ 测量本底噪声:<10-3sr-1
※ 可水平装置粉末和液体样品进行测量
※ 重复性:<本底噪声的5%
※ 全自动测量四个角坐标(Θ and Φ、入射及反射角)
※ 集成电控单元,用于快速处理、显示和存储数据
※ 自动带通滤光轮,一次性测量十二种多光谱通道
※ 支持斯特林循环冷却的MCT和InSb检测器,可以无人值守地全自动数据采集,自动切换标样样品测量
 

测量指标:

全半球双向反射分布函数(BRDF)
非偏振BRDF
线性偏振BRDF
双向透射分布函数(BTDF)

应用领域:

※ 航空工业
※ 国防
※ 航天
※ 行星探测
※ 涂层领域
※ 光学材料质量控制
 

技术参数:
 
项    目
参    数
测量项目
BRDF、BTDF
光谱范围
0.35~14μm
角度范围
∙ Incident polar: Theta i        Θi = 0° to 85°
∙ Incident azimuthal: Phi i      Φi = 0° to 350°
∙ Reflected polar: Theta r      Θr = 0° to 85°
∙ Reflected azimuthal: Phi r    Φr = 0° to 360°
角度精度
0.1°
光谱滤波
标准商业化1英寸薄膜带通滤光片
自动化
Θi,Φi,Θr,Φr,光源孔径,滤光轮和样品/参照X极
光源
Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower
检测器
Si, InGaAs, dual InSb/MCT
本底噪声
<10-3sr-1
样品尺寸
直径1英寸圆片、粉末、液体
运行
PC控制,全自动测量
尺寸
53″W x 53″D x 75″H
 
产地:美国
 

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产品关键词:SOC,210,BRDF,BDR
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