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高光谱成像光谱仪
SOC710SWIR 短波红外成像光谱仪
技术简介:
 
   SOC710SWIR短波红外成像光谱仪是原型号SOC720的升级版,更轻便、快捷、精确;是一款高质量、高性能的科研级高光谱成像仪,光谱范围900~1700nm。
   SOC710SWIR具有卓越的高光谱分辨率 (2.75nm),成像分光计和高灵敏度的制冷型InGaAs 阵列检测器,使得SOC710SWIR能够以16bit的数字分辨率同时收集640*568像素、288个波段的高光谱信息。其卓越的性能及成像质量,在同类产品中无出其右。
   SOC具有40余年光谱成像经验,具有多项高光谱成像领域专利,与美国NASA及国防部长期合作。参与了多款太空望远镜的光学模块研发工作。
 
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仪器特点:
 
   SOC710 SWIR为一体式设计,集成度高,开箱之后即可使用;具备内置平移推扫装置,不需另配扫描台,即可任意方向或直接垂直向下扫描;扫描速度与积分时间自动匹配。 
   独特的内置扫描和双CCD设计,可以直接预览待测区域图像,内置平移式平移推扫设计成功地解决了外置扫描方式无法避免的图像畸变问题。真正的所见即所得!
   自动暗电流,自动匹配积分时间,预览图像自动提示曝光饱和,自动存储;可按预设的测量间隔长期无人值守全自动监测。
   系统采用SOC的HyperScanner 操作软件和SRAnal710™校准和分析工具进行标定和数据处理。
   SOC处理器以最优的测量速度快速获取光谱数据,数据以开放的BIL二进制格式保存,可以兼容ENVI等第三方数据分析软件,适应多种研究应用。
   严格NIST可溯源校准,数据准确可靠。
   配备高质量的成像分光器、标定和分析软件、高速低噪声制冷型InGaAs探测器和高性能平移扫描系统,SOC710 SWIR通过高速USB接口记录900~1700nm光谱范围内、2.75nm分辨率的高质量光谱成像数据。 
   SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据,可以很容易的用第三方分析软件打开,如ENVI软件。无须数据格式转换。

应用领域:

农业领域
遥感科学 医学领域 温度记录 军事 机器视觉
 精准农业
 土地分类
 水分胁迫
 作物健康
 种子品质
 环境遥感
 资源勘察
 病变组织分析
 血糖分析
 X线断层摄影术
 火点监测
 玻璃检测
 金属纯度
 伪装识别
 边境安全
 导弹跟踪
 电子学和塑胶
 晶片检查
 食品药品
 化学过程控制

技术参数:
 
光谱范围
900-1700 nm
光谱分辨率
2.75 nm
光谱通道
288
数字光圈
F/2.0
TFOV/IFOV (35MM)
10°/0.015625°
分辨率(像素)
640x568 (nominal)
扫描速度
60-120行/秒
测量速度
~10秒/Cube
数字分辨率
12/16bit
支架接口
1/4”-20
数据接口
USB
扫描方式
内置推扫
供电
DC12V/AC220V
重量
10 lbs.
尺寸
5”x8”x11”

产地:美国
 

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产品关键词:SOC,710,SWIR,光谱仪,短波,红外
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